12 июл 2024 · 12:23
{"document": [{"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "АО «НИИЭТ» активно реализует проекты по созданию передовой электронной компонентной базы в различных направлениях, включая разработку микроконтроллеров, СВЧ- и силовых приборов, осваивает новые технологии и разрабатывает "}, {"type": "string", "attributes": {"href": "https://niiet.ru/product-category/testing/"}, "string": "испытательное "}, {"type": "string", "attributes": {}, "string": "оборудование. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "В Институте первое полугодие завершилось перевыполнением плановых показателей на различных производственных площадках. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Например, в испытательном центре проводятся испытания не только микросхем и полупроводниковых приборов, а всей номенклатуры ЭКБ. В настоящее время работа в центре ведется в три смены. Потребность в испытательном оборудовании производства АО «НИИЭТ» очевидна, и ее росту способствует увеличение объемов производства ЭКБ в нашей стране. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "С целью увеличения объема выпуска определенного ряда интегральных микросхем производства АО «НИИЭТ» сотрудниками испытательного центра Института в кратчайшие сроки были изготовлены в нужном количестве испытательной оснастки (плат), что позволит расширить пропускную способность на участке отбраковочных испытаний (электротермотренировки). "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Целью отбраковочных технологических испытаний интегральных схем является отбраковка потенциально ненадежных схем. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Процесс термоэлектротренировки - это один из существенных методов отбраковки микросхем, при котором в течение достаточно длительного времени (около 168 часов) интегральная микросхема находится в предельно-допустимом электрическом режиме. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Специалисты испытательного центра АО «НИИЭТ» руководствуются дифференцированным подходом к выбору решения по изготовлению технологической оснастки при проведении испытаний ЭКБ. Учитывается полнота проверки исследуемых параметров, удобство и универсальность использования оснастки во время проведения работ. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Необходимо отметить, что испытательная оснастка может быть произведена специалистами Института не только в собственных целях, но и по техническому заданию для своих заказчиков. При этом в каждом случае определяется выгодное соотношение технических характеристик, стоимости и сроков её разработки и изготовления. Компетенции и опыт компании позволяют клиентам решать, как типовые, так и нестандартные задачи в области контроля качества ЭКБ. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "АО НИИЭТ продолжает наращивать объемы производства интегральных схем и полупроводниковых приборов, максимально задействуя собственные кадровые, научные и производственные ресурсы, для чего самостоятельно разрабатывает и изготавливает необходимую оснастку. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Подробную информацию по испытательному оборудованию можно узнать на сайте АО «НИИЭТ» или задать вопрос на электронную почту "}, {"type": "string", "attributes": {"href": "mailto:p.parmon@niiet.ru"}, "string": "p. parmon@niiet. ru"}, {"type": "string", "attributes": {}, "string": ". "}], "attributes": []}], "selectedRange": [540, 540]}
Комментарии 0