11 июл 2025 · 12:26
{"document": [{"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "АО «НИИЭТ» представило линейку "}, {"type": "string", "attributes": {"href": "https://niiet.ru/product-category/testing/"}, "string": "испытательных "}, {"type": "string", "attributes": {}, "string": "стендов на прошедшей недавно конференции «Передовые и перспективные решения в корпусировании электронных компонентов: развитие технологий и рынка услуг». "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Презентация состоялась в рамках обширной деловой программы, собравшей ведущих отраслевых экспертов, разработчиков и производителей. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Испытательные стенды АО «НИИЭТ» обеспечивают инновационные решения для тестирования компонентов микроэлектронных устройств, значительно повышая эффективность производственного процесса и сокращая затраты на тестирование электронных компонентов. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Участники деловой программы получили возможность ознакомиться с особенностями новых решений и задать интересующие вопросы экспертам НИИ электронной техники. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Линейка испытательного оборудования Института включает в себя два направления – стенды СИТ и автоматическая камера термоудара АКТУ. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Стенды серии СИТ разработаны в первую очередь для проведения ускоренных длительных испытаний на безотказность электронных компонентов. Стенды являются собственной разработкой АО «НИИЭТ». Оборудование подразделяется на универсальные статические и динамические стенды для проведения отбраковочных испытаний и испытаний ЭКБ на надежность с загрузкой 30/50/70 изделий. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Проведение ускоренных испытаний позволяет быстрее передать изделия ЭКБ конечному потребителю, при этом не ухудшая качество этих изделий. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Так как основным ускоряющим фактором является температура, особую важность имеет возможность контролировать температуру корпуса каждого изделия для точного сопоставления результатов испытаний. Стенды СИТ за счёт своей конструкции позволяют измерять и подстраивать температуру каждого испытуемого изделия. Также очень важным этапом контроля и повышения качества являются отбраковочные испытания, которые тоже можно проводить на стендах серии СИТ. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Обязательным испытанием при разработке новых изделий или при серийной поставке интегральных микросхем и полупроводниковых приборов является термоудар, проводимый по методу 205-3 ОСТ 11 073. 013. Испытания проводятся методом переноса изделий между ваннами с рабочими жидкостями, разница температур в которых достигает 400 °C. До разработки камеры АКТУ-001 перенос изделий осуществлялся вручную оператором, а поддержание точных значений температур в ваннах требовало дополнительного контроля. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Автоматическая камера термоудара позволяет проводить эти испытания полностью в автоматическом режиме, а в отличии от зарубежных аналогов в АКТУ-001 для проведения испытаний в качестве рабочих жидкостей используются доступные этиловый спирт и глицерин. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Специалисты испытательного центра Института всегда готовы помочь потребителям с выбором той или иной модели испытательного оборудования и готовы индивидуально обсуждать с каждым заказчиком все нюансы технического задания. "}], "attributes": []}, {"text": [{"type": "string", "attributes": {}, "string": "Сделать заказ на проведение испытаний и оформить заявку на приобретение испытательного оборудования возможно на сайте производителя АО «НИИЭТ» или обратившись на почту p. parmon@niiet. ru. "}], "attributes": []}], "selectedRange": [2, 201]}
Комментарии 0